Accessoire de réflexion diffuse/spéculaire
C'est un accessoire polyvalent à réflexion diffuse et à réflexion spéculaire.Le mode de réflexion diffuse est utilisé pour l'analyse d'échantillons transparents et en poudre.Le mode de réflexion spéculaire sert à mesurer la surface réfléchissante lisse et la surface de revêtement.
- Haut débit lumineux
- Opération facile, aucun réglage interne nécessaire
- Compensation d'aberration optique
- Petit point lumineux, capable de mesurer des micro-échantillons
- Angle d'incidence variable
- Changement rapide de gobelet à poudre
ATR horizontal/ATR à angle variable (30°~ 60°)
L'ATR horizontal convient à l'analyse du caoutchouc, des liquides visqueux, des échantillons de grande surface et des solides pliables, etc. L'ATR à angle variable est utilisé pour la mesure des films, des couches de peinture (revêtement) et des gels, etc.
- Installation et fonctionnement faciles
- Haut débit lumineux
- Profondeur de pénétration IR variable
Microscope IR
- Analyse de micro-échantillons, taille d'échantillon minimale : 100 µm (détecteur DTGS) et 20 µm (détecteur MCT)
- Analyse non destructive d'échantillons
- Analyse d'échantillons translucides
- Deux méthodes de mesure : transmission et réflexion
- Préparation facile des échantillons
ATR à réflexion unique
Il offre un débit élevé lors de la mesure de matériaux à forte absorption, tels que le polymère, le caoutchouc, la laque, la fibre, etc.
- Haut débit
- Opération facile et efficacité analytique élevée
- La plaque de cristal ZnSe, Diamond, AMTIR, Ge et Si peut être sélectionnée en fonction de l'application.
Accessoire pour la détermination de l'hydroxyle dans le quartz IR
- Mesure rapide, pratique et précise de la teneur en hydroxyle dans le quartz IR
- Mesure directe sur le tube de quartz IR, pas besoin de couper des échantillons
- Précision : ≤ 1×10-6(≤ 1 ppm)
Accessoire pour la détermination de l'oxygène et du carbone dans les cristaux de silicium
- Support de plaque en silicone spécial
- Mesure automatique, rapide et précise de l'oxygène et du carbone dans le cristal de silicium
- Limite de détection inférieure : 1,0×1016 cm-3( à température ambiante)
- Épaisseur de la plaque de silicium : 0,4 ~ 4,0 mm
Accessoire de surveillance de la poussière de poudre SiO2
- SiO spécial2logiciel de surveillance de la poussière de poudre
- Mesure rapide et précise de SiO2poussière de poudre
Accessoire de test de composants
- Mesure rapide et précise de la réponse de composants tels que MCT, InSb et PbS, etc.
- La courbe, la longueur d'onde maximale, la longueur d'onde d'arrêt et D* etc. peuvent être présentées.
Accessoire de test de fibre optique
- Mesure facile et précise du taux de perte de la fibre optique IR, surmontant les difficultés de test des fibres, car elles sont très fines, avec de très petits trous de passage de lumière et difficiles à réparer.
Accessoire d'inspection de bijoux
- Identification précise des bijoux.
Accessoires universels
- Cellules liquides fixes et cellules liquides démontables
- Cellules à gaz avec différentes longueurs de trajet