1. Détermination simultanée de Ag, Sn, B, Mo, Pb, Zn, Ni, Cu et d'autres éléments dans des échantillons géologiques ; peut également être utilisé pour la détection de traces d'éléments de métaux précieux dans des échantillons géologiques (après séparation et enrichissement) ;
2. Détermination de plusieurs à plusieurs dizaines d'éléments d'impuretés dans des métaux et des oxydes de haute pureté, des échantillons de poudre tels que le tungstène, le molybdène, le cobalt, le nickel, le tellure, le bismuth, l'indium, le tantale, le niobium, etc. ;
3. Analyse des éléments traces et des oligo-éléments dans des échantillons de poudres insolubles tels que la céramique, le verre, les cendres de charbon, etc.
L'un des programmes d'analyse de soutien indispensables pour les échantillons d'exploration géochimique
Idéal pour la détection des impuretés dans les substances de haute pureté.
Système d'imagerie optique efficace
Le système optique Ebert-Fastic et le chemin optique à trois lentilles sont adoptés pour éliminer efficacement la lumière parasite, les halos et l'aberration chromatique, réduire le bruit de fond, améliorer la capacité de collecte de lumière, obtenir une bonne résolution, une qualité de raie spectrale uniforme et hériter pleinement des avantages du chemin optique d'un spectrographe à réseau d'un mètre.
source lumineuse d'excitation d'arc AC et DC
Il est pratique de pouvoir basculer entre les arcs électriques alternatifs et continus. Selon les échantillons à tester, le choix du mode d'excitation approprié permet d'améliorer l'analyse et les résultats des tests. Pour les échantillons non conducteurs, privilégiez le mode alternatif, et pour les échantillons conducteurs, le mode continu.
Les électrodes supérieure et inférieure se déplacent automatiquement vers la position désignée en fonction des paramètres du logiciel, et une fois l'excitation terminée, les électrodes peuvent être retirées et remises en place, ce qui est facile à utiliser et offre une grande précision d'alignement.
La technologie brevetée de projection d'imagerie d'électrodes affiche l'intégralité du processus d'excitation sur la fenêtre d'observation située devant l'instrument, ce qui permet aux utilisateurs d'observer facilement l'excitation de l'échantillon dans la chambre d'excitation et de mieux comprendre les propriétés et le comportement d'excitation de l'échantillon.
| Forme du chemin optique | Type Ebert-Fastic à symétrie verticale | Gamme actuelle | 2~20A(CA) 2~15A (CC) |
| Lignes de caillebotis planes | 2400 pièces/mm | source de lumière d'excitation | Arc AC/DC |
| distance focale du trajet optique | 600 mm | Poids | Environ 180 kg |
| Spectre théorique | 0,003 nm (300 nm) | Dimensions (mm) | 1500 (L) × 820 (l) × 650 (H) |
| Résolution | 0,64 nm/mm (première classe) | Température constante de la chambre spectroscopique | 35 °C ± 0,1 °C |
| Rapport de dispersion de la ligne descendante | Système d'acquisition synchrone haute vitesse basé sur la technologie FPGA pour capteur CMOS haute performance | Conditions environnementales | Température ambiante 15 °C à 30 °C Humidité relative < 80 % |